图谱：缺陷形态库

本页属"图谱与基准"组：回答 "这个缺陷该怎么描述、怎么定位、能不能修？" —— 描述方式决定了它能否被判级与处理。

本页按三段式走：先看形态库（概念）→ 再按三轴定位（会用）→ 最后看机制来源（原理）。

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一、形态库

① 点缺陷                    ② 线缺陷
 ┌──────────────┐            ┌──────────────┐
 │              │            │              │
 │      •       │ 亮点/暗点  │  ┃           │ 竖线
 │              │            │  ┃           │
 └──────────────┘            └──────────────┘
 位置固定、任何角度都在        整条线或整组线；可能时好时坏

③ 云斑（片状、边界柔和）      ④ 边缘漏光
 ┌──────────────┐            ┌──────────────┐
 │   ░░░░       │            │▓▓▓▓▓▓▓▓▓▓▓▓▓▓│
 │ ░░░░░░░░     │            │▓            ▓│
 │   ░░░░░      │            │▓            ▓│
 └──────────────┘            └──────────────┘
 全黑最明显、随灰阶变化         四边或某一边发亮（暗场最明显）

⑤ 受压痕（与结构件位置对应）  ⑥ 异物 / 气泡 / 尘点
 ┌──────────────┐            ┌──────────────┐
 │      ·       │            │      o       │ 细小、随机
 │  ·       ·   │            │   ·          │
 │      ·       │            │        o     │
 └──────────────┘            └──────────────┘
 轻压会变化（诊断线索，不是办法）

形态	描述要点	定位方向
点	亮点/暗点、数量、位置（可视区内/外）	像素电路、颗粒污染
线	方向（竖/横）、单条还是成组、是否随温度变化	走线或绑定（会变的偏连接）
云斑	大小、位置、出现的灰阶、是否随热机变化	盒厚/应力/涂布
漏光	哪一边、在哪个亮度档最明显	边缘遮光与结构
压痕	是否与支撑柱/螺丝位置对应、轻压是否变化	结构与公差
异物	尺寸、位置、是否在可视区	组装洁净度

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二、怎么判读（三轴定位）

轴一：位置固定吗？
   □ 固定（任何角度、任何亮度都在同一处）→ 屏内缺陷
   □ 随角度/距离变化 → 环境反射或表面污染
轴二：随条件变化吗？
   □ 随温度变化 → 偏连接或材料（结合"轻压会变"一起判）
   □ 随灰阶变化 → 偏光学（背光/膜片）
   □ 与内容相关 → 偏信号链或压缩（不是屏）
轴三：能不能修？
   □ 断线类：产线内可激光修复；出厂后不可
   □ 颗粒/污染：不可修
   □ 膜片与偏光片：可返工（成本较高）
   □ 绑定类：可重绑，但成本高

⚠️ 不要反复按压：它可能把可恢复的虚接变成永久损伤，也会破坏证据位置。

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三、机制：为什么会长成这样

① 点/线 ← 阵列端（像素 TFT、走线断短）或模组端（绑定）
② 云斑 ← "像素形成之前"的不均匀（盒厚、涂布、应力）→ 后端无法抹平
③ 漏光 ← 黑态仍有光从边缘逸出，边框遮光不足时被看到
④ 压痕 ← 受力改变盒厚 → 透过率变化（还会带来色偏）
⑤ 异物 ← 组装洁净度；一旦封在层间不可事后清除

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四、怎么复现（接入你的实测数据）

□ 工具：纯色图案（白/黑/红绿蓝/灰）+ 斜光观察 + 放大镜或显微；成像式相机更好
□ 条件：环境照度受控；记录亮度档与灰阶（黑场看漏光与云斑，白场看暗点）
□ 步骤：全屏拍照 → 标注位置与尺寸 → 按三轴填写描述 → 对照判级规则
□ 记录：形态 / 位置（可视区内外）/ 尺寸 / 出现条件 / 是否随温度与压力变化
□ 接入：用你的照片替换示意；保留"位置—条件—可修性"三轴判读

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五、常见误读

误读	事实
"有斑点就是坏点"	可能是灰尘、气泡或表面污染，位置与角度一动就分开了
"看着不明显就不算"	判级看数量、位置与尺寸，不看"我觉得还好"
"云斑能通过调设置解决"	多数属制程/结构，设置改不掉
"换机就能保证没有"	判级规则与退换窗口才是解决路径

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📋 判据接口：本页属器件与材料类 —— 依此页结论做判定时，除通用条件外还必须附带 判据字段集 · 器件与材料类 所列字段（共 6 项）：这个结论能代表"这一批"还是只代表"这一台"？ 缺任一项，结论不可复核，只能作降级表述。

关键概念速查

术语	含义
点缺陷	亮点/暗点，位置固定
云斑（Mura）	片状不均，边界柔和
受压痕	结构受力导致的局部色斑
判级	按数量、位置、尺寸与类型给出等级

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数据来源：本页为形态基准（方法学示意）；判级规则与容差以规格书、合同与厂商内部规范为准， 量级参考见 参考量级。