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Demura 与补偿的验收流程
一块屏做了 Mura 补偿（Demura），不等于"问题解决了" —— 补偿是用可调空间换一致性： 它压掉低频不均，同时可能引入色带、过冲与噪声；它让这一台达标，但不保证同批其它台一样。
这一页讲的不是"怎么补"，而是补完怎么验、验什么、验到什么程度才算通过。
本页按三段式走：先分清四件事与验收的前提口径（概念）→ 再按 SOP 验收一次补偿、查副作用与一致性（会用）→ 最后看补偿的代价与长期失效为何必须单独验（原理）。
与相邻页的分工：哪种 Mura 该走补偿、补偿的代价与边界见 Mura 的定量判级 第七节； 均匀性与 Mura 的口径见 显示均匀性； 出厂流程位置见 产线测试与老化 与 出厂校准流程； 本页只讲验收（效果 / 副作用 / 一致性 / 长期）。
一、适用范围
| 项目 | 本页覆盖 |
|---|---|
| 补偿效果（补偿前 → 补偿后） | ✅ |
| 高频残留与"只补了低频"的判定 | ✅ |
| 副作用（色带、过冲、暗部噪声、视角依赖） | ✅ |
| 批次一致性（同批多台残余分布） | ✅ |
| 长期稳定性（老化与温度后的补偿偏移） | ✅ |
| 判级与保修的分界 | 见 Mura 的定量判级、保修与坏点政策 |
| 补偿算法与数据生成 | 属面板厂与方案商的实现，见 局部调光算法与光晕 的相关分工 |
二、先分清四件事
| 要回答的问题 | 对照方式 | 常见错法 |
|---|---|---|
| 效果：不均压下去没有 | 补偿前后、同一测量系统同一条件对比 | 只报补偿后数据（没有对照就无法归因） |
| 副作用：有没有引入新问题 | 渐变、暗场、偏视角等专项图案 | 只看正视均匀性 |
| 一致性：同批是不是都一样好 | 多台抽样对比残余分布 | 只看一台"很漂亮" |
| 稳定性：以后还准不准 | 老化/温度后再测同一批点 | 把出厂验收当成长期结论 |
⚠️ "补偿后达标"是四个问题里最弱的一个结论：它只说明"这台、此刻、正视条件下"的结果。
三、验收的前提口径
| 项 | 要求 | 不写会怎样 |
|---|---|---|
| 测量系统 | 成像式系统的型号、光学系统、平场校正方式与日期 | 残余的很大一部分可能来自系统自身 |
| 几何与标定 | 距离、角度、视野覆盖与几何标定状态 | 边缘区域的读数失真 |
| 灰阶点 | 补偿在哪些灰阶点生成、中间灰阶如何插值 | 只测补偿点会漏掉插值误差 |
| 状态锁定 | 模式、亮度档、分区控光与补偿开关、预热时长 | 状态不同，结论不同 |
| 对照数据 | 补偿前的同一口径数据必须留存 | 没有对照，效果无法证明 |
✅ 平场校正与几何标定是"残余"的底噪：系统本身的不均匀度若与残余同量级， 验收结论就不成立（见 成像式测量设备）。
四、SOP 步骤：验收一次补偿
【步骤 1】锁定状态：模式、亮度档、补偿开关、预热到位（前后两次必须一致）
【步骤 2】取对照：补偿前的同一口径数据（若产线未留存，需用未补偿样机或关闭补偿复现）
【步骤 3】补偿后复测同一批测点与灰阶点，计算残余（而不是只看"最亮最暗差多少"）
【步骤 4】对照判读：
· 低频大幅改善、高频残留不变 → 属正常（补偿只做低频）
· 高频出现新的条纹/网格 → 属副作用（见第五节）
【步骤 5】灰阶扫描：在补偿点**之间**的灰阶重复测量，检查插值是否带来台阶或跳变
【步骤 6】亮度与色度分开验（多数补偿只做亮度，色度不均仍会留在那里）
【步骤 7】偏视角复测：正视达标但偏视恶化是常见代价⚠️ 第 5 步是最容易漏的一步：补偿点达标而中间灰阶出现台阶， 用户看到的是"渐变上有竖带" —— 那是插值问题，不是补偿效果问题。
五、副作用检查清单
| 副作用 | 用什么图案查 | 判读要点 |
|---|---|---|
| 色带 / 阶调损失 | 灰阶渐变、暗部渐变 | 修正消耗灰阶级数（见 灰阶与 EOTF） |
| 局部过冲 | 补偿区边界附近的平场 | 边界出现亮暗线，说明补偿量在邻域突变 |
| 暗部噪声放大 | 低灰阶平场、暗场 | 增益高的区域会把测量噪声一起写进去 |
| 网格 / 条纹感 | 平场 + 偏视角 | 与分区或采样网格对齐的规律纹路 |
| 色度未补偿 | 白场与灰阶的色度平场 | 亮度补好了、色偏还在（两者独立） |
| 视角依赖恶化 | 正视 / 偏视对比 | 补偿值只对正视条件成立 |
六、一致性与样本
【步骤 1】确定抽样：至少覆盖不同面板批与不同产线时段
【步骤 2】每台都做"补偿前 / 补偿后"两次，得到**残余分布**
【步骤 3】比较的不是单台最好值，而是分布的**中位与最差**
【步骤 4】多灰阶、多亮度档各取一组（补偿效果随工作点变化）
【步骤 5】记录每台的补偿数据版本（补偿表随批次会更新）⚠️ 补偿不保证个体一致：同一批里有的台补得好、有的台补不出来（受制于面板自身的可补偿空间）。 所以验收判据必须落在分布上，而不是单台的最优表现。
七、长期稳定性与失效
【步骤 1】老化后复测：在规定的老化/加速条件后再测同一批点
【步骤 2】温度复测：常温、高温、低温各测一次（补偿值随温度漂移）
【步骤 3】判断是否出现"补偿偏移"：原补偿点变差、或残留方向反转
【步骤 4】若产品支持动态补偿或复校，记录更新周期与触发条件
【步骤 5】把"补偿在什么条件下会失效"写进使用与维护说明✅ 为什么长期必须单独验：补偿数据是按出厂状态生成的。 面板老化与温度变化都会让"当时的正确修正量"变成"现在的错误修正量"（见 漂移与老化）。
八、记录表
| 台号 / 样本 | 补偿表版本 | 补偿前残余 | 补偿后残余 | 高频残留 | 副作用项 | 结论 |
|---|---|---|---|---|---|---|
副作用矩阵：
| 副作用 | 图案 | 是否出现 | 位置 / 量级 | 处置 |
|---|---|---|---|---|
条件框（必须与表一起给出）：
测量系统（型号、光学、平场校正日期）/ 几何（距离、角度、标定状态）/
灰阶点与插值方式 / 状态（模式、亮度档、补偿开关、预热）/
对照数据来源 / 样本量与批次 / 老化或温度条件（长期项）九、常见错误与规避
| 错误 | 后果 | 规避 |
|---|---|---|
| 只报补偿后数据 | 效果无法证明 | 留存补偿前对照 |
| 前后条件不一致 | 差值是条件差，不是补偿效果 | 状态锁定并记录 |
| 只测补偿点 | 插值台阶漏检 | 加中间灰阶扫描 |
| 只看正视 | 视角依赖恶化漏检 | 加偏视角 |
| 只验亮度 | 色度不均残留 | 亮度与色度分开验 |
| 单台结论当批次 | 个体差异被掩盖 | 看残余分布 |
| 把出厂结果当长期结论 | 老化后失效无预警 | 老化与温度后复测 |
| 用测量系统噪声当残余 | 结论不成立 | 先确认平场与几何标定 |
| 把可判级缺陷拿去"补" | 掩盖结构问题 | 按 Mura 的定量判级 分界处理 |
十、结果输出建议
【必须注明】
□ 测量系统与平场校正状态、几何与标定
□ 补偿表版本与生成条件；灰阶点与插值方式
□ 补偿前后的残余（同口径）
□ 高频残留是否变化；副作用逐项结论
□ 样本量与批次；残余分布的中位与最差
□ 老化/温度后的复测结果（若做）
□ 结论边界：对哪些灰阶、哪些亮度档、哪些视角成立📋 判据接口：本页属工程与制造类 —— 依此页结论做判定时，除通用条件外还必须附带 判据字段集 · 工程与制造类 所列字段（共 7 项）：这个结论是"这台的设计问题"，还是"这一批的共因"？ 缺任一项，结论不可复核，只能作降级表述。
关键概念速查
通用术语见 统一速查（由统计生成，只在一处维护）。
| 术语 | 英文 | 含义 |
|---|---|---|
| 补偿（Demura） | De-mura | 用逐区或逐像素修正压掉低频不均 |
| 残余 | Residual | 补偿后仍存在的不均量 |
| 高频残留 | High-Frequency Residual | 补偿不覆盖的细小不均与条纹 |
| 插值台阶 | Interpolation Step | 补偿点之间由插值产生的跳变 |
相关文档
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数据来源：本页为流程整理，不含实测数据与限值；补偿方案与验收准则以规格书、客户要求与相应标准原文为准。