Mura 的定量判级：从目视到可计算的指标

Mura 的判定长期停在"看得见 / 看不见"这一步。但在产线与验收现场，"看得见"是不可执行的 —— 两个人会给出两个结论，换一个照度又会换一个结论。

这一页补的就是中间缺失的那一环：把"目视"翻译成可计算的量，并说清这条翻译链上哪几步最容易出错。

本页按三段式走：先看清定量判级要解决什么（概念）→ 再走一遍采集与判级的流程（会用）→ 最后弄清为什么小面积低对比缺陷最难判（原理）。

均匀性的口径与混入项见显示均匀性：亮度、色度与色温；面板缺陷的分级框架见面板缺陷判级总览；感知指标的边界见感知度量与客观指标。

一、为什么 Mura 需要一套定量口径（概念）

判法	能回答	不能回答
纯目视	有没有、大概在哪	是否达标、能否复现、边界个案怎么判
纯均匀性数字	全屏分布的统计量	局部缺陷是否可见（平均值会把小块缺陷抹掉）
定量指标	在给定条件下是否可见、到什么程度	观感是否可接受（那是另一档判据）

三者的关系：

均匀性数字 —— 描述"整块屏的分布"          → 用来判"整体偏差"
Mura 指标  —— 描述"某个局部缺陷的可见度"  → 用来判"这一块算不算不良"
主观评价   —— 描述"使用者是否接受"        → 用来定"可接受"档

✅ 一条纪律：Mura 指标回答的是"可察觉"，不是"可接受"。 两档必须分开写（见判据与验收与感知度量第三节）。

二、对比敏感度：可见性不是"对比度够大就行"

人眼对不同空间频率的图案敏感度不同，这条曲线叫对比敏感度函数（CSF）：

敏感度（能察觉的最小对比度的倒数）
  高 │        ╭──╮
     │      ╭─╯  ╰─╮
     │    ╭─╯      ╰──╮
  低 │  ╭╯            ╰────╮
     └──┴────┴────┴────┴────┴──→ 空间频率
        很低   几 cpd   很高
   ① 很低频（大面积缓慢渐变）：敏感度反而下降
   ② 峰值区（数 cpd 量级）：最容易看出条纹
   ③ 很高频（很细的纹理）：敏感度迅速下降

关键结论：同一块缺陷，放大或缩小到不同尺寸，可见度完全不同。 所以"对比度 2%"既不充分也不必要 —— 还必须知道它在视网膜上占多少空间频率。

2.1 把"屏上的尺寸"换算成"视角频率"

这是整页最实用的一条式子 —— 它是"屏上物理尺寸"与"人眼感知"之间的桥：

视角频率 cpd（每度周期数）= 屏上频率（cyc/mm）× 观察距离（mm）× π / 180

例：屏上条纹周期 1 mm（即 1 cyc/mm），观察距离 500 mm
    → 1 × 500 × 0.01745 ≈ 8.7 cpd   （已进入人眼较敏感的频段）

变量	变化方向	可见度
观察距离更近	cpd 上升（或下降，取决于缺陷尺度）	显著改变：必须写距离
缺陷尺寸更大	cpd 下降	先变明显，过大后反而"看不出来"
屏更小（同分辨率）	同样 mm 对应更高 cpd	手机上的"看不出来"到桌面上会暴露

⚠️ 由此得到一条硬结论：Mura 的可见性判据必须带观察距离。只写"对比度不超过 X%"，无法判断到底是可见还是不可见；近眼显示的换算另见近眼显示（VR / AR）。

三、SEMU 一类加权指标：形状、面积、对比三者一起算

行业里为了解决"同对比度、不同大小差异很大"的问题，发展出加权型指标。 SEMU（由半导体设备与材料领域的标准提出）是其中被引用较广的一种，其思路可以概括为：

可见度指标 ≈ 对比度项^α × 面积项^β
   · 对比度项：缺陷的亮度（或色度）差异
   · 面积项：缺陷尺寸（常以像素数或形状相关量表达）
   · α、β 随缺陷类型与尺寸区间分段取值
→ 于是"小而淡"与"大而淡"被换成同一把尺子上的刻度

必须同时理解它的三条限制（否则会用过头）：

限制	含义
分段与指数依规范而定	不同缺陷形状（点、线、块）用不同区间与系数，不能跨类型比
它面向"显示屏制造过程的检查"	是产线口径，与"消费者是否接受"不是同一档
它不替代观察条件	指标里不含距离与照度 → 仍须连观察条件一起判

⚠️ 不要凭记忆写公式：SEMU 的指数、分段与适用缺陷类型在规范原文里有明确定义，本页只给思路；具体取值以该规范原文与所用软件/设备的实现说明为准。

3.1 与它并列的其它口径

口径来源	典型内容	适用
SEMU 类（制造侧规范）	亮度 Mura 的加权可见度指数	面板/模组产线判定
VESA 的 FPDM（平板显示测量标准）	均匀性与缺陷测量的方法学约定	显示器整机测量
SID 的 ICDM 发布的 IDMS（显示测量标准）	显示测量的方法学汇总	研究与工程通用
企业内控规格	按自家产线水平定的限值	具体项目验收

这些口径不能互相换算：判定必须在同一口径下做，跨口径比较无意义。标准值类信息见标准值总表，方法学索引见测量标准索引。

四、ICDM 与"机器判级"：把目视换成成像采集

一旦接受"可见度可以计算"，就能把判级交给成像系统。典型链路：

① 采集   成像亮度计一次取全屏（比逐点快且不漏局部缺陷）
② 预处理 平场校正（镜头渐晕）、暗场扣除、几何对齐
③ 分割   用背景拟合把低频分布与局部缺陷分开
         （否则"边缘偏暗"会被当成一块很大的 Mura）
④ 特征   对每个候选缺陷算：峰值对比度、面积、长宽比、方向、边界锐度
⑤ 折算   套用加权口径（如 SEMU 类），得到可见度指数
⑥ 判定   与判据比较并分级；记录条件与原始数据

这条链上有三处最容易出错，且都会把结论带偏：

风险点	后果	压掉的办法
没做平场校正	把镜头渐晕、角度差异当成屏的缺陷	用均匀参考板校正；固定采集几何
采集几何与判据不符	大屏边缘的成像入射角与正视差很多	逐区校正或用角度补偿；写明几何
背景拟合尺度选错	低频真实不均被当背景除掉，或反之把缺陷吃掉	写清分离尺度，并做敏感性验证

✅ 顺序仍是那句纪律：先证明"我测到的是屏"，再谈"屏好不好" （见测量踩坑合集与成像式测量设备）。

五、会用（一）：把"看得见"变成"可算"的四步

① 定条件：距离、视角、环境照度、灰阶、图案、观察者（或成像几何）
   —— 条件不进判据，指标就没有意义
② 定尺度：把缺陷的屏上尺寸换算成视角频率（见第二节式子）
   —— 决定"该用哪个敏感度区间"
③ 定口径：选一套加权指标（SEMU 类 / 内控公式），并写清出处与分段
   —— 不同口径不可混比
④ 定两档：可察觉档（指标阈值）与可接受档（主观或客户规格）
   —— 前者可由设备判，后者必须由人（或经认可的替代方案）确认

六、会用（二）：判级流程与记录

步骤	要记录什么
被测对象	机型、面板方案、批次、使用时长
状态	模式、亮度档、分区控光与 Demura 是否开启、预热时长
采集	设备型号、口径、距离、几何、曝光与量程、平场校正方式
缺陷	位置（分区/坐标）、面积、峰值对比度、方向、形状
指标	所用口径与出处、计算结果、分段依据
判定	判据版本、结论档位、例外与处置、复核人

📋 判据接口：本页属判据与治理类 —— 依此页结论做判定时，除通用条件外还必须附带判据字段集 · 判据与治理类所列字段（共 7 项）：这条判据能不能执行、能不能复现、边界在哪？缺任一项，结论不可复核，只能作降级表述。

七、会用（三）：与 Demura / 补偿的边界

情形	处理方向
亮度型 Mura、面板支持逐像素补偿	走 Demura 补偿，补偿后重测（而不是拿补偿前数据判级）
色度型 Mura	需逐像素或分区色度修正，代价高、机型少
大面积低频不均	补偿收益有限（空间尺度太大，修正空间不足）
结构受压造成的不均（贴边框暗带等）	属于结构问题，补偿只能掩盖，应改公差

补偿会带来代价，这两条必须一起记：

修正消耗灰阶级数（见灰阶与 EOTF 的"修正余量"）；
补偿只保证"修正后的结果达标"，不保证同型号其它个体一样（见漂移与老化）。

📌 走补偿之后怎么验收（对照、副作用、一致性、长期）见 Demura 与补偿的验收流程。

⚠️ 判级与"修"的分界：超标属面板或结构缺陷时走判级/换机流程（见保修与坏点政策），不要试图用客户端手段去压。

八、原理（一）：为什么"小而淡"和"大而淡"的判定完全不同

同样 2% 的亮度差：
   面积很小 → 落在高频区 → 人眼敏感度低 → 常常看不见
   面积中等 → 落在敏感度峰值区 → 最容易被看出来
   面积很大 → 低频区 → 敏感度又下降，但会被感知为"脏""发花"
→ 所以"对比度越小越好判"这句话是错的：
   可见度是"对比度 × 空间频率（尺寸与距离）"的联合函数
→ 加权型指标（如 SEMU 类）之所以要做幂函数加权，
   本质就是在用一条近似曲线去描述上面这个联合效应

九、原理（二）：为什么同一块屏换个条件结论会变

影响结论的三组条件：
   ① 观察侧：距离（决定视角频率）、视角、观察者（个体差异）
   ② 环境侧：环境照度（抬高黑位、改变适应状态）、背景亮度
   ③ 屏侧  ：灰阶（Mura 常在中低灰阶最明显）、亮度档、模式与补偿状态
→ 任一项变化，都可能把"看不见"变成"看得见"（或反之）
→ 因此判级不是对"屏"下结论，而是对"屏 + 一组条件（含距离与照度）"下结论
→ 库里其它页反复出现的同一句话在这里再次成立：
   条件即判据的一部分（见 [判据与验收](criteria-and-acceptance.md)）

关键概念速查

术语	英文	含义
不均匀缺陷	Mura	低对比度、边界模糊的区域性不均
对比敏感度函数	CSF	人眼敏感度随空间频率变化的曲线
空间频率	Spatial Frequency	单位视角内的周期数，单位 cpd
刚可察觉差异	JND	开始能被分辨的最小差异
加权可见度指标	SEMU	由对比度与面积加权得到的 Mura 指标思路
显示测量标准	IDMS	由显示计量委员会汇总的测量方法学
平板显示测量标准	FPDM	面向显示器整机的测量标准
平场校正	Flat-field Correction	扣除镜头渐晕与采集不均
逐像素补偿	Demura	按像素或分区写入修正量
可察觉 / 可接受	Detectability / Acceptability	两级判据，不可混用

Mura 的定量判级：从目视到可计算的指标 ​

一、为什么 Mura 需要一套定量口径（概念） ​

二、对比敏感度：可见性不是"对比度够大就行" ​

2.1 把"屏上的尺寸"换算成"视角频率" ​

三、SEMU 一类加权指标：形状、面积、对比三者一起算 ​

3.1 与它并列的其它口径 ​

四、ICDM 与"机器判级"：把目视换成成像采集 ​

五、会用（一）：把"看得见"变成"可算"的四步 ​

六、会用（二）：判级流程与记录 ​

七、会用（三）：与 Demura / 补偿的边界 ​

八、原理（一）：为什么"小而淡"和"大而淡"的判定完全不同 ​

九、原理（二）：为什么同一块屏换个条件结论会变 ​

关键概念速查 ​

相关文档 ​