图谱：均匀性与云斑

本页属"图谱与基准"组：回答 "这块屏上的斑，是 Mura、是脏污，还是环境反射？" —— 这三者外形相似而处置完全不同。

本页按三段式走：先看形态有哪些（概念）→ 再按形态—成因对照判读（会用）→ 最后看机制来源（原理）。

示意不等于实测：替换方法见第四节（判读规则不变）。

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一、形态一览（黑白示意 + 判读要点）

① 中心亮 / 四角暗            ② 四角亮 / 边缘亮
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 背光混光/网点分布             边缘漏光 / 遮光不足

③ 条带（纵向或横向）          ④ 云状斑块（随机、边界柔和）
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 膜片褶皱 / 棱镜方向装反        盒厚不均 / 组装应力 / 涂布不均

⑤ 细密点状 / 颗粒               ⑥ 与支撑柱、螺丝位置对应
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 异物 / 尘点 / 气泡              受压（Pressure Mura）

形态	关键判读特征	首要怀疑
中心亮、四角暗	与观看/测量几何无关，换角度不变	背光混光与网点分布
四角/边缘亮	只在暗场明显，随亮度档变化	边缘漏光、遮光与结构
条带	方向固定、间距规律	膜片褶皱、棱镜膜方向装反
云状斑块	边界柔和、位置固定、随灰阶变化	盒厚不均、组装应力、涂布
点状/颗粒	明显小于分区、随机分布	异物、气泡、尘点
与结构件位置对应	轻压会变化	受压（结构类，改公差不是改光学）

⚠️ 一个决定性区分动作：在与屏面平行的方向移动探头/相机，同时改变观察角度。 位置随角度/距离变化 → 环境反射或表面脏污； 位置固定不动 → 屏内缺陷。

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二、怎么判读（五步）

① 先排除"不是屏的问题"：换角度、擦屏（在允许的情况下）、遮光后再看
② 分级：均匀性是一组指标（亮度 / 色度 / 色温 / ΔE），必须指明判的是哪一种
③ 定量：用九点或成像式测量；写明测点布局与计算方式（最大偏离 / 标准差）
④ 看灰阶依赖：只在某些灰阶出现 → 更偏光学/制程；全灰阶都在 → 偏背光/结构
⑤ 看是否随温度/时间变化：会变 → 结构或贴合；不变 → 制程或材料

你要回答的问题	该做的测量
亮度分布如何	九点或全屏成像，白场 + 黑场各一次
色度分布如何	同上，但记录色坐标（不是只记亮度）
是 Mura 还是脏污	成像 + 角度/距离变化 + 清洁复测
是背光还是受压	受控压力验证（工程样机）+ 与支撑柱位置比对

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三、机制：为什么会长成这样

① 背光类（中心亮/四角暗、灯影）
   侧入式靠导光板网点把点光源摊成面光源；网点密度与混光距离不足 → 分布不均
② 结构类（云斑、受压痕）
   盒厚决定液晶延迟 → 局部受压改变盒厚 → 该处透过率变化（还会带来色偏）
③ 漏光类（边缘亮）
   背光在黑态仍有一部分光从边缘逸出，边框遮光不足时被看到
④ 制程类（细条、涂布不均）
   膜片/滤色片/取向的局部波动 → 在成品端无法修复，只能判级
⑤ 表面类（脏污、划痕、气泡）
   位于最外层 → 与屏内缺陷难分辨，但可用角度与清洁区分

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四、怎么复现（接入你的实测数据）

□ 仪器：成像式亮度色度计（一次取全屏）或色度计 + 位移台（九点/十三点）
□ 图案：全白 / 中间灰 / 全黑各一次（黑场用于漏光与云斑）
□ 环境：暗室已验证（关屏测反射亮度）；探头与屏面垂直，距离固定
□ 步骤：成像 → 生成分布图 → 计算统计量 → 与判据口径对齐
□ 记录：测点布局 / 计算方式 / 亮度档 / 图案灰阶 / 温度与热状态
□ 自检：随机抽几点用点测复核成像结果（跨方法对照）
□ 接入：用你的分布图替换本页示意，保留"形态—成因"对照表

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五、常见误读

误读	事实
"有斑就是屏坏"	先排除反射、脏污与观察角度
"亮度均匀就等于色度均匀"	两者成因不同，必须分开判
"一个均匀性数字够了"	需指明判的是亮度/色度/色温/ΔE，以及测点与算法
"黑场有光就是漏光"	也可能是环境反射与表面污染

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📋 判据接口：本页属器件与材料类 —— 依此页结论做判定时，除通用条件外还必须附带 判据字段集 · 器件与材料类 所列字段（共 6 项）：这个结论能代表"这一批"还是只代表"这一台"？ 缺任一项，结论不可复核，只能作降级表述。

关键概念速查

通用术语见 统一速查（由统计生成，只在一处维护）。

术语	含义
Mura	屏内的亮度/色度空间不均
云斑	边界柔和的片状不均，多与盒厚/应力相关
受压痕	组装压力造成的局部色斑，轻压会变化

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• 实测数据接入规范 —— 把本页示意换成你自己的采样点

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数据来源：本页为形态基准（方法学示意），不含具体容差数值；容差与判级规则以规格书、 合同与厂商内部规范为准，量级参考见 参考量级。