主题
漂移与老化：时间维度的判据
前面几条轴 —— 整体偏色、灰阶、空间均匀性、视角 —— 都是"某一时刻"的误差。时间维度问的是另一件事：这些误差随时间怎么变。
这带来一个其他维度没有的后果：任何静态补偿都会过期。 校准时写进去的修正量，是"那一刻"的修正量；器件继续老化，修正量就越来越不对。所以时间维度在可补性矩阵里是 ⚠️：能缓解，但只能靠定期重做，不能靠一次做对。
器件侧的寿命机理（封装、烧屏化学、亮度衰减）见 OLED 封装与寿命； 测试方法与加速试验见 可靠性测试； 产线老化筛选见 产线测试与老化； 质控里的基线实践见 医疗显示灰阶质控。 本页只补它们未覆盖的一层：跨类型的形态分类、可逆性判断与复校判据。
本页按三段式走：先判可逆性与分清四种"时间"（概念）→ 再把复校周期落成日程（会用）→ 最后弄清静态补偿为何必然过期（原理）。
一、漂移的五种形态，以及最要紧的一件事：可逆吗
| 形态 | 表现 | 可逆性 |
|---|---|---|
| 亮度衰减 | 全屏亮度随时间下降（背光 LED 光衰、OLED 材料衰减） | ❌ 不可逆（可补偿，但消耗余量） |
| 色度漂移 | 白点与灰阶色度随时间偏移（LED 波长与配比变化、偏光片老化） | ❌ 不可逆 |
| 均匀性恶化 | 局部差异随时间放大（各位置老化速率不同） | ❌ 不可逆 |
| 残影 | 曾显示的内容留下痕迹 | ⚠️ 部分可逆：短时可恢复，长期固定下来就成不可逆 |
| 压痕 / 应力残留 | 组装应力造成的短期不均 | ✅ 通常可恢复 |
✅ 处置顺序的第一步不是"测漂了多少"，而是"判断可逆性"： 可逆的按"恢复"处理（不要急着判故障）；不可逆的才进入判级与换机流程。 反过来做，会把可恢复的压痕当成烧屏报修，也会把已经固化的残影当"再跑跑就好"。
可逆性怎么验（三种简单做法）：
① 换内容：全屏白或移动图案跑一段时间 → 残影消退 = 可逆；固定不动 = 已固化
② 断电静置：隔一段时间再看 → 明显减轻 = 可逆
③ 释放应力：轻压边框 / 重新装配后复测 → 变化明显 = 结构或压痕因素二、几种"时间"不要混：寿命、MTBF、保修、复校周期
| 概念 | 含义 | 谁在引用 |
|---|---|---|
| 器件寿命 | 亮度衰减到某个比例的时间（如 T95 / T50） | 器件规格、封装与寿命页 |
| 保修期 | 商务承诺的时间范围 | 合同与 保修与坏点政策 |
| MTBF 类指标 | 统计推算的平均无故障时间 | 可靠性设计（见 加速试验与寿命外推） |
| 复校周期 | 校准结果的有效期 | 质控流程与 判据与验收 |
⚠️ 这几项常被当成一回事，其实互相独立：器件寿命到某比例时通常还远不到"不可用"； 而保修期内也完全可能已经漂出容差。写判据时必须指明说的是哪一个， 否则"这台还能用多久"会得到几个不同答案。
三、基线与复校：把"该重校了"变成可算的
基线 = 某个已知状态下、带完整条件的记录。 没有基线，"漂了多少"无从谈起 —— 这与 偏色与补偿 里"客户端没有基线"是同一件事的两个尺度。
复校判据（可算的写法）：
允许的总容差 = 原始偏差 + 累积漂移 + 测量不确定度
└ 校准可修正 └ 只能靠重校 └ 仪器侧
→ 当"累积漂移"接近总容差中留给它的那一份时，就该重校这样"多久校一次"就不是凭感觉，而是由容差与漂移速率共同决定： 容差越紧、漂移越快，周期就越短。
几条实践要点：
- 趋势比单次更有价值 —— 单次合格不代表长期稳定（做法可参考 医疗显示灰阶质控 的基线管理）；
- 重建基线的四个时机：换仪器、换工况、维修或换机、规格或口径变更；
- 换仪器或换口径后，趋势图上会出现"台阶" —— 那是方法变了，不是产品变了 （可比性条件见 测量标准索引 的对照清单）。
四、判据分级：什么时候算"退化"
| 级别 | 表现 | 处置 |
|---|---|---|
| 观感可察、未超差 | 需在指定条件下才能看出 | 记录并观察趋势，不判故障 |
| 超出容差、且可补 | 测出超差，但仍在补偿能力内 | 重校（并记录这次消耗了多少余量） |
| 超出容差、不可补 | 已到补偿能力边界 | 判级 —— 属于能力问题，不是校准问题 |
| 不可逆失效 | 烧屏、局部不可逆衰退 | 走判级或换机流程 |
⚠️ "亮度降了"不等于"坏了" —— 先看是否超差、再看能不能补，最后才谈处置。
五、可补性：静态补偿追不上漂移
| 层 | 对漂移的作用 | 说明 |
|---|---|---|
| 设计与材料 | ✅ 治本 | 选低漂移材料、控制工作点 |
| 制程与老化筛选 | ✅ 治本 | 把早期失效与快漂批次筛掉（见 可靠性测试） |
| 产线逐台补偿 | ⚠️ 一次性的 | 写下的是当时的修正量 |
| 客户端补偿 | ⚠️ 一次性的 | 同上，且更依赖用户愿不愿意重做 |
| 流程手段 | ✅ 有效 | 基线 + 复校周期 + 趋势监控 —— 时间维度真正管用的组合 |
⚠️ 一条容易被忽略的耦合：补偿本身消耗余量，而余量也会随时间减少 —— 初始校准时余量留得太少，几年后就补不动了。 这与 偏色与补偿 里"补偿能力越强，规格越应收紧"是同一条逻辑。
六、术语提醒：Burn-in 有两个意思
| 语境 | 含义 |
|---|---|
| 产线 / 可靠性 | 老化筛选 —— 通电数小时至数十小时，把早期失效筛掉；数百至上千小时属寿命评估，不是筛选（见 产线测试与老化） |
| OLED 显示 | 烧屏 —— 内容残留形成的不可逆衰退 |
⚠️ 看到 "burn-in" 先判断语境：一个说的是筛选流程，一个说的是显示缺陷，别顺着往下推。
七、常见误区
| 误区 | 说明 |
|---|---|
| "校准一次就完事了" | 静态补偿会过期，需要复校周期 |
| "寿命 T95 就是能用多久" | 寿命、保修期、复校周期是三件事 |
| "残影就是烧屏" | 短时残影多数可恢复，先验可逆性 |
| "亮度降了就是坏了" | 先看是否超差、能否补偿，再谈处置 |
| "同一批机器会一直一致" | 各台老化速率不同，一致性会随时间重新拉开 |
| "burn-in 都是烧屏" | 产线语境下指老化筛选 |
| "余量是够的，以后再说" | 余量随时间减少，初始留得太少以后补不动 |
八、会用：把"该重校了"落成日程（五步）
① 建基线：在已知状态下记录完整条件（模式、亮度、白点、仪器、日期）
② 估速率：用两次或多次测量的差值 ÷ 间隔时间，得到**该项目的漂移速率**
（至少两点，趋势比单点可靠；条件不一致的两点不能算速率）
③ 分预算：把总容差拆成三份 —— 原始偏差（可校准修正）＋ 漂移（只能靠重校）＋ 不确定度
④ 定周期：让"周期 × 漂移速率"不超过留给漂移的那一份（容差越紧、漂移越快 → 越短）
⑤ 设触发：除固定周期外，还要设事件触发（换仪器 / 换工况 / 维修 / 规格变更 / 换机）记录模板：
项目：____ 基线与日期：____ 上次复校与日期：____
本次测量值与条件：____ 速率估算（两次差值 ÷ 间隔）：____
结论：在容差内 / 需重校 / 已到可补性边界（→ 判级）九、原理：为什么静态补偿"必然"过期
补偿是把"当前的偏差"反向写进映射（LUT、配比或驱动参数）
→ 它有效的前提是"偏差不再变化"
→ 但器件在持续老化：亮度衰减、色度漂移、均匀性恶化，且**不同位置与不同通道的
速率并不一致**
→ 于是"那一刻的修正"越来越不匹配 → 残余偏差随时间增长
→ 这就是为什么时间维度在可补性矩阵里是 ⚠️：
能缓解（重做补偿），但不能靠"一次做对"消除推论：初始校准时不要用满补偿余量 —— 补偿本身消耗余量，而余量还会随时间减少（见第五节）。
📋 判据接口：本页属判据与治理类 —— 依此页结论做判定时，除通用条件外还必须附带 判据字段集 · 判据与治理类 所列字段（共 7 项）：这条判据能不能执行、能不能复现、边界在哪？ 缺任一项，结论不可复核，只能作降级表述。
关键概念速查
通用术语见 统一速查（由统计生成，只在一处维护）。
| 术语 | 英文 | 含义 |
|---|---|---|
| 老化 | Aging | 器件特性随使用累积变化 |
| 亮度衰减 | Luminance Decay | 亮度随时间下降 |
| 残影 | Image Retention | 可恢复的暂时性留痕 |
| 老化筛选 | Burn-in Test | 产线通电筛选早期失效 |
| 复校周期 | Recalibration Interval | 校准结果的有效期 |
| 补偿余量 | Headroom | 补偿可用的空间，随时间减少 |
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结论登记表 —— 本页核心结论编号：C-024
数据来源：本页为方法论整理，不含具体寿命数值 —— 器件寿命指标（如 T95 / T50）见 OLED 封装与寿命，项目容差与周期以规格书和合同为准。