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画质类故障案例
画质类问题最难定位 —— 现象相似、根因各异。本节按现象归类整理定位路径。
分析框架见 故障案例库：总览与分析方法；机理见 失效分析。
⚠️ 以下为技术现象与机理的通用归纳，不针对任何具体厂商或型号。
一、亮度均匀性类（Mura / 云斑）
现象
屏幕上出现区域性亮度不均，形状不规则，边界模糊。
| 细分 | 表现 |
|---|---|
| 云斑（Clouding） | 大面积、缓慢变化的不均 |
| 条状 Mura | 沿某方向的带状不均 |
| 点状 Mura | 局部小区域异常 |
| 四角发暗 | 边缘亮度低于中心 |
定位路径
① 换背景色观察（黑/白/灰）→ 判断在黑场还是白场明显
② 全屏纯色 vs 局部图案 → 判断是否与内容相关
③ 改变亮度 → 观察 Mura 是否随亮度变化
④ 热机前后对比 → 判断是否为热致
⑤ 轻微按压边框 → 观察是否变化（指向组装应力）
⑥ 换视角观察 → 区分 Mura 与视角效应根因层级
| 层级 | 可能原因 |
|---|---|
| 部件层 | 背光膜片褶皱、导光板定位偏移、LED 一致性 |
| 工艺层 | 盒厚不均、隔垫物分布不均、膜厚波动、组装应力 |
| 材料层 | 扩散板吸湿形变、偏光片应力 |
| 设计层 | 公差设计不足、散热不均 |
Mura 是最典型的"制程问题" —— 见 成盒与模组制程。
从观察特征反推层级、亮度与色度口径的差别、以及"成品侧能补到哪一层"的边界，见 显示均匀性。
二、偏色类
现象
画面整体或局部颜色不对（偏红/偏绿/偏蓝/偏黄）。
| 类型 | 表现 |
|---|---|
| 整体偏色 | 全屏一致偏移 |
| 局部偏色 | 某区域偏色（常与 Mura 伴生） |
| 灰阶偏色 | 只在暗部或高光偏色 |
| 渐变偏色 | 从中心到边缘渐变 |
定位路径
① 恢复出厂设置 → 排除设置导致
② 换色彩模式（sRGB / 原生）→ 判断是否模式问题
③ 换信号源/图案源 → 排除信号链色彩管理
④ 检查色度抽样与 RGB 范围 → 常见误判来源
⑤ 用色度计测白点与灰阶 → 量化偏差
⑥ 分区测量 → 区分整体偏色与局部偏色
⑦ 热机前后对比 → 判断热致漂移根因层级
| 类型 | 常见根因 |
|---|---|
| 整体偏色 | 出厂校准偏差、色彩模式设置、信号范围错配 |
| 灰阶偏色 | Gamma 校准、驱动 IC 精度 |
| 局部偏色 | 盒厚不均、背光色度不均 |
| 渐变偏色 | 视角效应（正常）或背光不均 |
⚠️ "偏色"经常是设置问题（色彩模式 / RGB 范围 / 系统 ICC），先排除再归因硬件。
成因分类、可补性与代价见 偏色与补偿：成因、可补性与验收。
三、漏光类
现象
黑场下边缘或角落出现亮斑、亮边。
| 类型 | 表现 |
|---|---|
| 角部漏光 | 四角发亮 |
| 边缘漏光 | 边框附近发亮 |
| 光晕（Blooming） | 亮物周围发晕（分区控光） |
定位路径
① 暗室全黑场观察 → 确认位置与形状
② 改变亮度 → 观察漏光强度变化
③ 轻压边框 → 观察是否变化（指向组装/公差）
④ 热机前后对比 → 判断是否热致
⑤ 关闭分区控光 → 区分漏光与光晕根因层级
| 层级 | 原因 |
|---|---|
| 工艺层 | 封框不良、边框遮光不足、组装应力 |
| 部件层 | 导光板边缘设计、膜片边缘 |
| 设计层 | 公差与结构设计 |
光晕属分区控光的固有代价，见 局部调光算法与光晕。
四、残影与烧屏类
现象
画面切换后残留上幅图像。
| 类型 | 性质 |
|---|---|
| 图像残留（可恢复） | 短期、切换内容后消失 |
| 烧屏（不可恢复） | 永久性材料老化（OLED） |
| 残影（LCD） | 液晶离子污染或驱动问题 |
定位路径
① 切换内容观察数小时 → 区分"残留"与"烧屏"
② 断电静置后观察 → 残留通常消失
③ 全白/全黑"洗屏" → 观察是否减轻
④ 检查是否长期显示静态内容 → 使用习惯因素
⑤ 仪器测量残留区域亮度差 → 量化根因层级
| 类型 | 根因 |
|---|---|
| LCD 残影 | 液晶离子污染（VHR 下降）、驱动极性、取向不良 |
| OLED 烧屏 | 有机材料老化（尤其蓝光）、补偿不足 |
| 短期残留 | 电荷积累、驱动时序 |
见 OLED 封装与寿命、液晶材料。
五、闪烁类
现象
画面亮度脉动或可感知的闪动。
| 类型 | 表现 |
|---|---|
| PWM 频闪 | 低频调光引起的闪烁 |
| 内容相关闪烁 | 分区控光随内容变化 |
| 刷新率切换闪烁 | 自适应刷新切换时 |
定位路径
① 降低亮度 → 观察闪烁是否加重（PWM 特征）
② 提高亮度到最高 → PWM 通常消失
③ 用摄像头拍摄 → 可见滚动条纹（辅助判断）
④ 用频闪仪测量 → 得到频率与调制深度
⑤ 关闭分区控光/VVR → 判断是否内容驱动
⑥ 换刷新率 → 观察是否随刷新率变化根因层级
| 类型 | 根因 |
|---|---|
| PWM 频闪 | 调光方式（低频 PWM） |
| 分区控光闪烁 | 背光算法平滑不足 |
| VRR 闪烁 | 刷新率变化时的驱动时序 |
见 背光与调光、VRR 技术深度解读。
六、灰阶与色带类
现象
渐变出现台阶、暗部出现色带或噪点。
| 类型 | 表现 |
|---|---|
| 灰阶断层 | 渐变出现明显台阶 |
| 暗部噪点 | 低亮区域颗粒感 |
| 色带（Banding） | 平滑渐变出现条纹 |
定位路径
① 换渐变测试图案 → 确认现象
② 换色深设置（8/10bit）→ 对比差异
③ 关闭 DSC（若可）→ 判断压缩影响
④ 关闭系统 ICC / 软件 LUT → 判断软件引入
⑤ 提高亮度 → 暗部噪点是否减轻
⑥ 换接口/线材 → 排除链路降规格根因层级
| 原因 | 层级 |
|---|---|
| 面板色深不足（8bit） | 部件层 |
| FRC 抖动不理想 | 功能层 |
| DSC 压缩 | 链路层 |
| 显卡 LUT 位深损失 | 系统层 |
| 低亮段驱动精度 | 功能层（OLED 常见） |
七、坏点类
现象
全屏纯色下出现**常亮（亮点）或不亮（暗点）**的像素。
| 类型 | 表现 |
|---|---|
| 亮点（常亮） | 黑场下可见 |
| 暗点（常黑） | 白场下可见 |
| 子像素点 | 单色下可见 |
| 常亮点（Stuck） | 全色下都亮 |
定位路径
① 依次显示 R/G/B/黑/白 全屏 → 定位类型
② 轻压该区域（谨慎）→ 观察是否变化
③ 记录数量与位置 → 对照判据
④ 换图案排除"图案本身"因素根因层级
| 原因 | 说明 |
|---|---|
| 阵列缺陷 | TFT 失效 |
| 颗粒污染 | 制程洁净度 |
| 绑定不良 | 模组工艺 |
| 驱动 IC 通道异常 | 功能层 |
判据需参考现行有效的像素缺陷分级标准（见 测量方法标准索引）。
八、通用排查清单（画质类）
□ 是否已恢复出厂设置（排除设置问题）
□ 是否已排除信号链（换源/换线/去中间设备）
□ 设置是否统一（抽样/RGB 范围/HDR/模式）
□ 是否在暗室观察（低亮问题必须暗室）
□ 是否已充分预热（避免热致误判）
□ 是否量化测量（避免纯主观结论）
□ 是否多台对比（区分个体与批次）
□ 是否记录复现条件关键概念速查
通用术语见 统一速查（由统计生成，只在一处维护）。
| 术语 | 英文 | 含义 |
|---|---|---|
| 图像残留 | Image Retention | 可恢复残留 |
| 色带 | Banding | 渐变条纹 |
| 亮点/暗点 | Bright/Dark Dot | 像素缺陷 |
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